年，贝尔实践室在研讨雷达探测整流器时，发掘硅存在PN结效应，年，美国通用电气（GE）公司研发出生界上第一个产业用平凡晶闸管，标识着电力电子技能的出生。

此后功率半导体器件的研发及应用获患了马上进展，并马上生长为电子建立业的焦点器件之一，还自力成为电子电力学科。

做为电能/功率管教的焦点器件，功率半导体器件首要用于电力设置的电能转换和电路节制，更是弱电节制与强电运转之间的疏通桥梁，首要效用是变频、变压、变流、功率夸大和功率办理，对设置寻常运转起到关键效用。

与此同时，功率半导体器件还具备绿色节能机能，被遍及应用于险些全部的电子建立业，现在利用周围正从保守产业建立和4C财产向新动力、电力机车、智能电网等周围进展。

跟着智能电网、汽车电气化等应用周围的进展，功率半导体器件慢慢往高压、高频方位进展，功率分立器件的演进途径根底为二极管→晶闸管→MOSFET→IGBT，此中，IGBT是功率半导体新一代中的典范产物。

在半导体功率器件行业百尺竿头的同时，对应的测试行业也获患了马上的进展。

尽人皆知，一颗耗费电子芯片终究做到末端产物上，寻常需求颠末芯片打算、晶圆建立、晶圆测试、封装、制品测试、板级封装等这些次序。

此中测试部份首要分三大类：芯片机能测试、功能测试、牢靠性测试，芯片产物要上市三大测试缺一不成。

机能测试，是测试芯片的参数、目标、机能，用人话说便是看你十月受孕生下来的宝物是骡子是马拉出来遛遛。

功能测试，由于芯片在临盆建立进程中，有有数或者的引入弊病的次序，假使是统一批晶圆和封装制品，芯片也各有黑白，是以需求举办挑选。

牢靠性测试，芯片颠末了机能与功能测试，获患了好的芯片，不过芯片是否简捷被静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天是否寻常劳动，以及芯片能用一个月、一年仍旧十年等等，这些都要颠末牢靠性测试举办评价。

测试办法囊括板级测试、晶圆CP测试、封装后制品FT测试、系统级SLT测试、牢靠性测试等，多策并举。

而半导体功率器件，从研发，临盆，后期利用，乃至产物培修都需求举办响应的电参数测试。

那功率器件详细都要举办哪些测试呢？

（1）静态参数测试：最根底的测试项目，可简捷的评价器件的功能黑白。

各样静态参数为利用者牢靠筛选器件供给了特别直觉的参考根据、同时在变频器，焊机，轨道交通中的功率器件探测培修，表现了相当严重的效用。

（2）动态参数测试：动态参数的崇高决议着器件的开关功能。

常常咱们期望功率半导体器件的开关速率尽或者得高、开关进程短、耗费小。不过在理论应用中，影响开关个性的参数有不少，如续流二极管的反向复原参数，栅极/漏极、栅极/源极及漏极/源极电容、栅极电荷的存在，是以针关于此类参数的测试，变得尤其严重。开关个性决议装配的开关耗费、功率密度、器件应力以及电磁兼容性。直接影响转换器的功能。是以正确的衡量功率半导体器件的开关功能具备极端严重的意义。

（3）极限能耐测试：如浪涌电流测试，雪崩能量测试。

浪涌电流是指电源接通刹时或是在电路呈现反常环境下形成的深切于稳态电流的峰值电流或过载电流。雪崩耐量即向半导体的接合部施加较大的反向衰减偏压时，电场衰减电流的震动会引发雪崩衰减，此时元件可吸取的能量称为雪崩耐量。

（4）老化牢靠性寿命测试：为了保证产物的经久功能，也便是产物利用的寿命。半导体功率器件厂家在产物定型前都市做一系列的牢靠性实验，以保证产物的永恒经久功能。

陕西开尔文测控技能有限公司创设于年，位于西安市高新区进展大路26号，是国内自决研发高端大功率新式半导体器件测试系统及测试技能效劳的高新技能企业，努力于新式器件（SiC,GaN，石墨烯等）材料解析、元器件探测、牢靠性评测、系统机能考证等效劳。

现在，测试系统及测试技能效劳已深入国内各大院校、航天、航空、武器、中船、电子行业等，特别是电力设置、电动汽车、轨道交通周围的动力车组和应用大功率半导体器件举办打算、建立等行业，获患了遍及的应用。

别的，公司依靠CASA(第三代半导体财产同盟),联结西安电子科技大学，中科院微电子所等高校研讨院所，创设新式半导体器件研讨实践室，努力于华夏第三代新式(SiCGaN石墨烯)器件测试、牢靠性实践、材料解析等效劳，同时分身现有Si基产物关连实践。现在，公司已颠末CNAS实践室认证。

公司自创设以来，以技能强项和高端产物的气力，获患了7项软件著做权备案文凭、11项适用新式专利，颠末了陕西省民营科技企业认证、西安市民营科技企业认证、获患了技能业务资历认证、颠末了ISO处境办理编制认证、OHSAS工作矫健平安办理编制认证、ISO品质办理编制认证，颠末了陕西省高新企业认证，并在年，以《高速特大功率半导体器件IGBT测试系统》进入陕西省科技厅策略性新兴财产庞大产物项目，项目编号KTCQ01-31。

公司主营产物

静态参数测试系统、动态参数测试系统、牢靠性参数测试系统、静态参数测试适配器、静态参数测试夹具、测试软件、SiC/GaN全系列电参数测试系统、CNAS实践室测试效劳、新式材料、器件研发。

碳化硅器件动态参数测试系统

半导体分立器件测试系统

IGBT动态参数测试系统

特大功率IGBT静态参数测试与解析系统

碳化硅器件浪涌电流测试系统

功率器件流水线全静态参数主动测试系统

少子寿命测试仪

更多产物消息参考

转载请注明:http://www.aideyishus.com/lktp/979.html