X射线荧光镀层测厚仪UX-产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：eV

高压范围：5-50Kv，50W

X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：镀层滤光片

CCD观察：万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：ACV，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：?0.5mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区自定义

样品腔：70*20mm

整机重量：38kg

　　X射线荧光镀层测厚仪是一种常用于测量金属表面涂层的工具。它利用了X射线的特殊性质，能够穿透物体并与其元素相互作用，产生荧光辐射。通过测量这些荧光辐射的强度和能量，可以确定被测材料表面的涂层厚度以及成分。

　　X射线荧光镀层测厚仪一般由三部分组成：X射线源、样品台和探测器。X射线源通常是一个小型的X射线管，可以发射出高能量的X射线束。样品台是一个平面上升降装置，可以调节被测物体到X射线源的距离。探测器则是一个接收荧光辐射信号的装置，通常采用固态探测器或气体探测器。

　　在实际使用中，操作人员先将待测的金属样品放在样品台上，并将其与X射线源对准。然后，X射线源会发射出高能量的X射线束，穿过待测金属表面的涂层，与其底部的金属基材相互作用。在此过程中，X射线束会激发出被测物体表面元素的内层电子，使其跃迁至更高能级，随后放出荧光辐射。

　　这些荧光辐射信号将会被探测器接收到，并转换成电信号。利用校准曲线和荧光峰位能量特征，操作人员可以计算出涂层厚度和成分。因为不同元素的化学性质和结构不同，它们的荧光峰位也不同，从而可以通过荧光峰位的位置识别出被测物体表面的元素种类。

　　X射线荧光镀层测厚仪有着广泛的应用，可以测量各种金属材料的涂层厚度和成分，并且具有高精度、非破坏性和快速等优点。它常被用于汽车、航空、钢铁、电子等工业领域中，以确保产品的质量和安全性。同时，操作人员在使用时也需要遵循相关的安全操作规范，以保证自身和周围环境的安全。