当前位置: 测量装置 >> 测量装置前景 >> 半导体粉末电阻率测试仪中西器材型号M
配置包含仪器+粉末测试架
仪器的电流输出为10A-mA,电阻率测试范围为10-2-Ωcm,直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强,更方便于用户,而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。
适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量,特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制.电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统,高度测量的测试台和仪器组成.
仪器主要包括电气箱和测试架两部分,电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器,加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度高,稳定性好,重复性好,使用方便等特点,并有自校功能。
本仪器采用通用的电流-电压降法即四端子测量法,可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差,还可以消除连接系统所带来的误差,克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病,真实、准确地测量出粉末样品的电阻率,因此重复性好。
本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。
主要技术指标:
1.测量范围:
*电阻10-4-Ω,分辨率10-4Ω
*电阻率10-4-Ω.cm,分辨率10-4Ω.cm
测量误差±(0.3%读数+2字)
2.测量电压量程:20mV,mV,2V,分辨率10V
测量精度:±(0.3%读数+2字)
3.测量电流:0-mA连续可调,
电流量程:10A,A,1mA,10mA,mA
4.试样粒度:40目以下-60目以上(标准筛网)纳米粉末
5.试样容器:内腔Φ16.30±0.1mm
6.试样高度:16mm±0.5mm
测量误差:±0.1mm
7.取样压力:4Mpa±0.05Mpa(40kg/cm±0.5kg/cm)
压力量程:0-kg可调
8.显示方式:电阻、电阻率、压力为31/2数字显示,并自动显示单位和小数点
9.电源:±10%,50HZ-60HZ,功率消耗W消耗
10.外形尺寸电气箱:mm×mm×mm
11.备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用
注:本型号可测粉末以及片状/棒状样品